伴随着中国半导体及集成电路产业飞速发展，产业规模不断扩大，技术水平不断攀升，在整个价值链中，半导体芯片失效分析面临着诸多新的挑战。

　　赛默飞世尔科技作为科学服务领域的世界领导者，为解决芯片等失效定位及分析问题所开发的锁相热成像设备极大满足了市场需求。今天有幸邀请到了唐涌耀先生给大家做线上分享。

　　唐涌耀先生在赛默飞世尔科技有着15年以上的半导体从业经验，这些年里，他专注于半导体失效分析领域，分析产品覆盖逻辑存储器、模拟芯片、驱动IC、功率MOSFET等各种类型。

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　　唐涌耀精通失效分析流程中的各种分析技术，目前更多地专注于失效分析设备及分析技术的原理和设计，结合多年的实战经验，为晶圆制造、封装测试、平板显示等各个领域的客户提供从FA到PF的完整分析流程及解决方案。